عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
پدید آورنده
/ Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
موضوع
ELECTRONIC|MATERIALS SCIENCE (uncategorised)&ENGINEERING, ELECTRICAL
رده
E-BOOK
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
9789400776630
IR
EN-34242
انگلیسی
IR
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
[Book]
/ Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken
Springer
, 2014.
Electronic
ELECTRONIC|MATERIALS SCIENCE (uncategorised)&ENGINEERING, ELECTRICAL
E-BOOK
Jacopo Franco
ایران
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
محرمانه
محرمانه
403689.pdf
متن
old catalog
e
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح