عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Microelectronic test structures for CMOS technolog
پدید آورنده
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
موضوع
Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
9781441993779 (electronic bk.)
IR
E-5967
انگلیسی
IR
Microelectronic test structures for CMOS technolog
[Book]
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
New York
: Springer,
, c2011.
1 online resource (xxxiv, 373 p.)
Print
Includes bibliographical references and index.
Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing
Electronic books., local
621
.
3815
.
2
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
Bhushan, Manjul.
Ketchen, Mark B
SpringerLink (Online service)
ایران
old catalog
p
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح