عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدید آورنده
/ Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
موضوع
Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده
E-BOOK
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
9781441909275 (hbk. : acid-free paper)
IR
EN-55607
انگلیسی
IR
Power-aware testing and test strategies for low power devices
[Book]
/ Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
New York
: Springer,
, c2010.
xxiii, 363 p. , ill. , 24 cm.
Electronic
Includes bibliographical references and index.
Low voltage integrated circuits, Power supply
Low voltage integrated circuits, Testing
E-BOOK
Girard, Patrick,Ph. D
Nicolici, Nicola
Wen, Xiaoqing
ایران
9781441909275.pdf
عادی
عادی
9781441909275.pdf
متن
old catalog
e
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح