عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدید آورنده
edited by Lawrence C. Wagner
موضوع
Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده
TK
7871
.
852
.
F35
1999
کتابخانه
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
۶۶۴۰۷۴۱۸(۰۲۱) – ۶۴۵۴۲۳۴۹(۰۲۱)
CE R1
Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
Boston, Mass.
Kluwer Academic Publishers
1999
ix, 255 p.: ill
"SECS 494"--p. ]4[ of cover
Includes bibliographies and index
Semiconductors - Failures
Integrated circuits - Testing
Integrated circuits - Reliability
TK
7871
.
852
.
F35
1999
TI
edited by Lawrence C. Wagner
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح