عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
VLSI testing: Digital and mixed analogue / digital techniques
پدید آورنده
Hurst, Stanley Leonard
موضوع
Integrated circuits - Very large scale inegration - Testing
رده
TK
7874
.
H87
1998
کتابخانه
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
۶۶۴۰۷۴۱۸(۰۲۱) – ۶۴۵۴۲۳۴۹(۰۲۱)
CE O
Hurst, Stanley Leonard
VLSI testing: Digital and mixed analogue / digital techniques
London
Institution of Electrical Engineers
1998
xx, 532 p.: ill
IEE circuits, devices and systems series; 9
Includes bibliographies and index
Integrated circuits - Very large scale inegration - Testing
TK
7874
.
H87
1998
AU
Stanley L. Hurst
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح