عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 415 .F88 2014
QC
415
.
F88
2014
کتابخانه
محل استقرار
electronic
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
Weinheim, Germany
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
2014
Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
، Diffraction patterns--Data processing
، Image processing--Data processing
QC
415
.
F88
2014
AU
AU Servin, Manuel
AU Padilla, J. Moises
AU Quiroga, J. Antonio
