عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874.75 .S64 2011
TK
7874
.
75
.
S64
2011
کتابخانه
محل استقرار
استان: خراسان رضوی ـ شهر: مشهد
50574
Soft errors in modern electronic systems
New York
Springer Science+Business Media, LLC
c2011
xviii, 316 p. : ill. )some col.(
Frontiers in electronic testing
v. 41
Includes bibliographical references and index
Michael Nicolaidis, editor
Very large scale integration ، Integrated circuits
Effect of radiation on ، Electronic apparatus and appliances
621
.
39/5
TK
7874
.
75
.
S64
2011
TI
AU Nicolaidis, Michael
SE
CL
