عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .75 .L35 1997
TK
7874
.
75
.
L35
1997
کتابخانه
محل استقرار
115635
120722
تابستان۷۷
English
)50-91(
Lala, Parag K.
Digital circuit testing and testability
San Diego
Academic Press
1997
xii, 199 p.: ill.; 23 cm
Includes bibliographical references and index
، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
، Digital integrated circuits-- Testing
، Integrated circuits-- Fault tolerance
TK
7874
.
75
.
L35
1997
AU
Parag K.Lala
TI
129
05
