عنوان

‏‫Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and ‭nanoscratching: application to rough and natural surfaces

‏‫‭3-540-28405-2‬

‎۱‎۲‎۰‎۸‎۴‎۹‎۹

‏‫Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and ‭nanoscratching: application to rough and natural surfaces

‏‫‭/ G. Kaupp.

‏‫‭Berlin

‏‫‭: Springer-Verlag

‏‫‭= 1385.

‏‫xii‏، ۲۹۲‏ ص.

: مصور، جدول، نمودار.

‏‫‭Nanoscience and technology

‏‫‭, 1434-4904.

انگلیسی.

کتابنامه.

نمایه.

میکروسکوپی نیروی اتمی

میکروسکوپی میدان نزدیک

‏‫‭۵۰۲

۸۲

‏‫

۲۱۲‭‬‭

‏‫‭

۲ ۱۳۸۵

کاوپ

Kaupp

، گرد

, G.

(Gerd)