1. Abc's of electronic test probes
پدیدآورنده : Graf, Rudolf F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Probes )Electronic instruments(
رده :
TK
7872
.
P7
G68
1971
2. Electric probes in stationary and flowing plasmas: theory and application
پدیدآورنده : Chung, Paul Myung-Ha.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Plasma diagnostics,، Probes )Electronic instruments(
رده :
QC
718
.
5
.
D5
.
C48
3. Electric probes in stationary and flowing plasmas: theory and application
پدیدآورنده : Chung, Paul Myung-Ha
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Plasma diagnostics,، Probes )Electronic instruments(
رده :
QC
718
.
5
.
C48
4. Electric problems in stationary & flowing plasmas:theory and
پدیدآورنده : CHUNG,PAUL MYUNG-HA
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : PLASMA DIAGNOSTICS , PROBES )ELECTRONIC INSTRUMENTS(
رده :
QC
718
.
5
.
D5
C48
5. Electron probe microanalysis
پدیدآورنده : Birks, L.S.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Microchemistry,، Probes )Electronic instruments(
رده :
QD
98
.
B5
1971
6. Electron probe microanalysis
پدیدآورنده : BIRKS,L S
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : MICROCHEMISTRY , PROBES )ELECTRONIC INSTRUMENTS(
رده :
QD
98
.
B5
7. Optique des rayons X et microanalyse, X-ray optics and microanalysis IV Congres international
پدیدآورنده : / publie sous la direction de R. Castaing, P. Deschamps, J. Philibert
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)
موضوع : Microchemistry - Congresses,Microradiography - Congresses,Probes (Electronic instruments) - Congresses,X-rays - Congresses
رده :
544
.
83
In-O
8. #Quantitative electron microprobe analysis
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Microchemistry ،Probes )Electronic instruments( ،Chemistry, Analytic-- Quantitative
رده :
#
QD
،#.
M5T5
9. Symposium on X-Ray and Electron Probe Analysis; presented at the sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., June 27, 1963
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Congresses ، X-ray spectroscopy,Congresses ، Probes )Electronic instruments(
رده :
QD
95
.
S95
1964