• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۱۴ پاسخ غیر تکراری از ۱۴ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۷۰ ثانیه یافت شد.

1. High-resolution X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / by Ullrich Pietsch, Vaclav Holy and Tilo Baumbach

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Thin films- Optical properties,X-rays- Scattering,X-rays- Diffraction,Nanostructured materials

رده :
QC176
.
84
.
O7P54
2004

2. High-resolution X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Thin films--Optical properties.,X-rays--Scattering.,X-rays--Diffraction.,Nanostructured materials

رده :
QC
176
.
84
.
O7P54
2004

3. High-resolution X-ray scattering

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Thin films--Optical properties,X-rays -- Scattering,X-rays -- Diffraction,Nanostructured materials

رده :
QC
176
.
84
.
O7P54
2004

4. High-resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Pietsch, Ullrich, 1952-

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)

موضوع: Thin films Optical properties ► X-ray--Scattering ► Xprays Diffraction ► Nanostructure materials

رده :
P626h

5. High-resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Pietsch, Ullrich

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع: ، Thin films-- Optical properties,، X-rays-- Scattering,، X-rays-- Diffraction,، Nanostructured materials

رده :
QC
176
.
84
.
O7
.
P54
2004

6. High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayels

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Vaclav Holy, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach

کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)

موضوع: Optical properties ، Thin films,Optical properties ، Thin films, Multilayered,، X-rays -- Scattering,، X-rays -- Diffraction

رده :
QC
176
.
84
.
O7H6

7. پراکندگی اشعه ایکس از : نانو ساختارهای سطحی

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: مولف : اولریش پیچ? واتسلاف هولی? تیلو باومباخ,پیچ Pietsch. اولریش , Ullrich

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد شهيد مطهری دانشگاه رازى (کرمانشاه)

موضوع: لایه های نازک -- خواص نوری اشعه ایکس -- پراکندگی مواد نانوساختار

رده :
QC
176/84
/
خ
9
پ
9

8. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از: نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م‌

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع: لایه‌ها‌ی نا‌زک‌ - خواص‌ نوری,اشعه‌ ایکس‌ - پراکندگی‌,مواد نا‌نو سا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹

9. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از : نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م‌

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بیرجند (خراسان جنوبی)

موضوع: لایه‌ها‌ی نا‌زک‌ -- خواص‌ نوری,اشعه‌ ایکس‌ -- پراکندگی‌,مواد نا‌نوسا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹ ۱۳۹۱

10. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از : نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م‌

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه زنجان (زنجان)

موضوع: لایه‌ها‌ی نا‌زک‌ -- خواص‌ نوری,اشعه‌ ایکس‌ -- پراکندگی‌,مواد نا‌نوسا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹

11. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از : نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م‌

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع: لایه‌ها‌ی نا‌زک‌ -- خواص‌ نوری,اشعه‌ ایکس‌ -- پراکندگی‌,موادنا‌نوسا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹ ۱۳۹۱

12. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از : نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م‌

کتابخانه: کتابخانه مرکزي و مرکز اسناد دانشگاه سمنان (سمنان)

موضوع: لایه‌ها‌ی نا‌زک‌ -- خواص‌ نوری,اشعه‌ ایکس‌ -- پراکندگی‌,مواد نا‌نوسا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹ ۱۳۹۱

13. پراکندگی اشعه ایکس از : نانو ساختارهای سطحی

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ Pietsch ، اولریش , Ullrich

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه ولی عصر(عج) رفسنجان (کرمان)

موضوع: لایه های نازک, اشعه ایکس , مواد نانوساختار

رده :
QC
176/84
/
پ
9
پ
4
1395

14. پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌ از: نا‌نو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی‌

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: پیچ‌، اولریش‌ Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ -

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع: خواص‌ نوری لایه‌ها‌ی نا‌زک‌,پراکندگی‌ اشعه‌ ایکس‌,موادنا‌نوسا‌ختا‌ر

رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال