1. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987

