1. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
2. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
3. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
4. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques
پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
