1. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Frank F. Tsui
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Integrated circuits-- Large scale integration-- Testing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
،
7874
،.
T78
،
1987
2. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Tsui, Frank F
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
3. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Tsui, Frank F.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Large scale integration-- Testing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
T78
1987
