عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .B484 1990
TK
7874
.
B484
1990
کتابخانه
محل استقرار
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 159 p.: ill.; 24 cm
فروست
ساير اطلاعات عنواني
The Kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture, and digital signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references )p. ]149[-155(
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
رده بندی ديویی
شماره
621
.
39
/5
/0287
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
B484
1990
سایر رده بندی ها
شماره رده
NO
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Bhattacharya, Debashis, 1691-
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Hayes, John P. )John Patrick(, 1944-
عنصر شناسه اي
TI
