عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC,183,.P5,v.33eb
QC
,
183
,.
P5
,
v
.
33eb
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
9780120885152
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
ebook892
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Waveguide spectroscopy of thin film
نام عام مواد
[Electronic Resource]
نام نخستين پديدآور
/ Alexander V. Khomchenko
وضعیت ویراست
وضعيت ويراست
1st ed.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Amsterdam
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Elsevier,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2005.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv, 220 p.
ساير جزييات
: ill. ; 24 cm.
فروست
عنوان فروست
(Thin films and nanostructures
مشخصه جلد
; v. 33)
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
e
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references (p. 207-217) and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
In this book new methods of study of the linear and nonlinear optical properties of thin films are presented. These techniques are based on the principles of the spatial Fourier spectroscopy of the light beam reflected from a prism-coupling device with the tunnel excitation of guided lightmodes in thin-film structures. Measurement techniques of determination of the absorption coefficient, refractive index and thickness of the dielectric, semiconductor or metallic films are considered. This book is highly recommended for specialists in the fields of integrated and thin film optics and for graduated students in related specialties. There are new techniques of measurement of thin-film parameters stated.
متن يادداشت
Foreword -- -- Acknowledgements -- -- Contents -- -- Introduction -- -- 1. Interaction of light with matter -- -- 2. Spectroscopy of optical guided modes -- -- 3. New applications of the m-line technique for thin-film structure studying -- -- 4. Spatial Fourier spectroscopy of guided modes: measuring the thin-film parameters -- -- 5. Characterizations of thin films by prism coupling of leaky modes -- -- 6. Measurements of absorption spectra of thin films -- -- 7. Applications of waveguide spectroscopy techniques in sensor systems -- -- 8. Optical nonlinearity in thin films at low-intensity light -- -- 9. Optical nonlinearity in multilayer structures -- -- Bibliography -- -- Index.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
Thin films and nanostructures
شماره جلد
v. 33
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Thin films--Spectra
موضوع مستند نشده
Thin films--Optical properties
رده بندی ديویی
شماره
530
.
4
,
175
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
,
183
,.
P5
,
v
.
33eb
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Khomchenko, Alexander V
مبدا اصلی
کشور
ایران
شماره دستیابی
شماره بازیابی
530.4,175
دسترسی و محل الکترونیکی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
0120885158.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
0
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
