عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TH 7874 .T78 1987
TH
7874
.
T78
1987
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
6-100356-07-0
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
75503
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
LSI VLSI testability design
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Frank F. Tsui
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York and London
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: McGraw - Hill Book Company
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv, 702 p.
ساير جزييات
: ill.
ابعاد
; 23 cm
فروست
عنوان فروست
Electrical control eingineering seties
يادداشت کلی
متن يادداشت
انگليسي
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical refrences and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Integrated Circuits -- Large scale integration -- Testing
موضوع مستند نشده
Integrated Circuits -- Vey large scale integration -- Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TH
7874
نشانه اثر
.
T78
1987
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Tsui
ساير عناصر نام
, Frank F
کد نقش
, author
مبدا اصلی
کشور
Iran
سازمان
Central Library Of Tehran University
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
Old cataloging
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
