عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7895 .E42S97
TK
7895
.
E42S97
کتابخانه
محل استقرار
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Amsterdam
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Elsevier/Morgan Kaufmann
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2008
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxxvi, 856 p.: ill
فروست
ساير اطلاعات عنواني
Morgan Kaufmann series in systems on silicon
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographies
متن يادداشت
ISBN: 012373973X
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Testing ، Systems on a chip
عنصر شناسه ای
Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7895
.
E42S97
سایر رده بندی ها
شماره رده
NO
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Wang, Laung-Terng
عنصر شناسه اي
AU Stroud, Charles E.
عنصر شناسه اي
AU Touba, Nur A.
عنصر شناسه اي
SE
