عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 176.84 .O7H6
QC
176
.
84
.
O7H6
کتابخانه
محل استقرار
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayels
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Berlin
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer-Verlag
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1999
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xi, 256 p.: ill
فروست
ساير اطلاعات عنواني
Springer tracts in modern physics; Vol.941
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographies
متن يادداشت
ISBN 354062029X
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Vaclav Holy, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Optical properties ، Thin films
عنصر شناسه ای
Optical properties ، Thin films, Multilayered
عنصر شناسه ای
، X-rays -- Scattering
عنصر شناسه ای
، X-rays -- Diffraction
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
176
.
84
.
O7H6
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Holy, Vaclav
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Pietsch, Ullrich
عنصر شناسه اي
AU Baumbach, Tilo, 1961-
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
