عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7867 .E54 2001
TK
7867
.
E54
2001
کتابخانه
محل استقرار
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
The institute of electrical and electronics engineers
تاریخ نشرو بخش و غیره
2001
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
]various pagings[ : illus, tables
فروست
ساير اطلاعات عنواني
IEEE Std 9411.1-1002
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
یادداشتهای مربوط به دسترسی موضوعی
متن يادداشت
R
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Testing Data processing ، Electronic circuits
عنصر شناسه ای
، Computer architecture
عنصر شناسه ای
، Boundary scan testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7867
.
E54
2001
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
CO The institute of electrical and electronics engineers
عنصر شناسه اي
SE
