(NATO science series. Series II, Mathematics, physics and chemistry
عنوان فروست
(NATO science series. Series II, Mathematics, physics and chemistry
مشخصه جلد
; v. 220)
مشخصه جلد
; v. 220)
يادداشت کلی
متن يادداشت
"Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-k Dielectric Nano-electronic Semiconductor Devices, held July 11-14, 2005, in St. Petersburg, Russia"--T.p. verso.
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and indexes.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
High-k technology -- Defects in high-k dielectrics : characterization -- High-k processing and defects -- High-k theory -- Electrically active defects -- Interfaces -- Processing, characterization and devices.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
NATO science series. Series II, Mathematics, physics, and chemistry
شماره جلد
v. 220
عنوانهای گونه گون دیگر
عنوان گونه گون
Nano-electronic semiconductor devices
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Gate array circuits , Congresses
موضوع مستند نشده
Dielectrics , Congresses
موضوع مستند نشده
Semiconductors , Defects , Congresses
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
NATO Advanced Research Workshop on Defects in High-k Dielectric Nano-electronic Semiconductor Devices (2005 : Saint Petersburg, Russia)