شابک
شابک
9789048196449
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EN-54711
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertaint
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ by Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Dordrecht
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer Netherlands :Imprint: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2013.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
XI, 123 p. 71 illus., online resource.
فروست
عنوان فروست
(Lecture Notes in Electrical Engineering,1876-1100
مشخصه جلد
; 115)
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, theystudyerror-maskingmechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: - Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; - Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; - Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; - Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility.
متن يادداشت
Introduction -- Probabilistic Transfer Matrices -- Computing with Probabilistic Transfer Matrices -- Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults -- Signtaure-based Reliability Analysis -- Design for Robustness -- Summary and Extensions.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
Lecture Notes in Electrical Engineering,1876-1100
شماره جلد
115
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Engineering
موضوع مستند نشده
Computer hardware
موضوع مستند نشده
Computer science
موضوع مستند نشده
Logic design
موضوع مستند نشده
Operating systems (Computers)
موضوع مستند نشده
Algebra, Data processing
موضوع مستند نشده
Systems engineering
موضوع مستند نشده
Electronic books
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Krishnaswamy, Smita.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Markov, Igor L
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Hayes, John P
مستند نام اشخاص تاييد نشده
SpringerLink (Online service)
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
9789048196432.pdf
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
9789048196432.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
