شابک
شابک
9781461461630
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EN-57637
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Analog IC Reliability in Nanometer CMO
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ by Elie Maricau, Georges Gielen
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York, NY
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer New York :Imprint: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2013.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
XVI, 198 p. 95 illus., 27 illus. in color., online resource.
فروست
عنوان فروست
(Analog Circuits and Signal Processing)
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. ? Enables readers to understand long-term reliability of an integrated circuit; ? Reviews CMOS unreliability effects, with focus on those that will emerge in future CMOS nodes; ? Provides overview of models for key aging effects, as well as compact models that can be included in a circuit simulator, with model parameters for advanced CMOS technology; ? Describes existing reliability simulators, along with techniques to analyze the impact of process variations and aging on an arbitrary analog circuit.
متن يادداشت
Introduction -- CMOS Reliability Overview -- Transistor Aging Compact Modeling -- Background on IC Reliability Simulation -- Analog IC Reliability Simulation -- Integrated Circuit Reliability -- Conclusions.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
Analog Circuits and Signal Processing
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Engineering
موضوع مستند نشده
Electronics
موضوع مستند نشده
Systems engineering
موضوع مستند نشده
Electronic books
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Maricau, Elie.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Gielen, Georges
مستند نام اشخاص تاييد نشده
SpringerLink (Online service)
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
9781461461623.pdf
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
9781461461623.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
