• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه

عنوان
Designing, testing, and diagnostics- join them

پدید آورنده
International Test conference )3991: Baltimore, Md.(

موضوع
، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses

رده
TK
7874
.
I474
1993

کتابخانه
كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى

محل استقرار
استان: تهران ـ شهر: تهران

كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى

تماس با کتابخانه : 88881052-88881042-021

عنوان و نام پديدآور

عنوان اصلي
Designing, testing, and diagnostics- join them

وضعیت نشر و پخش و غیره

محل نشرو پخش و غیره
Altoona, PA
نام ناشر، پخش کننده و غيره
The conference
تاریخ نشرو بخش و غیره
1993

مشخصات ظاهری

نام خاص و کميت اثر
xii, 1065 p.: ill

يادداشت کلی

متن يادداشت
Includes bibliographical references and index

یادداشت های مربوط به نسخه اصلی

متن يادداشت
1

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Testing- congresses
عنصر شناسه ای
، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses

رده بندی کنگره

شماره رده
TK
7874
.
I474
1993

سایر رده بندی ها

شماره رده
NO

نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )

عنصر شناسه اي
International Test conference )3991: Baltimore, Md.(
کد نقش
AU

نام / عنوان به منزله شناسه افزوده

عنصر شناسه اي
AU IEEE Computer Society
عنصر شناسه اي
TI

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال