عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7871 .99 .M44 J49
TK
7871
.
99
.
M44
J49
کتابخانه
محل استقرار
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Testing and reliable design of CMOS circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 231 p. : ill. ; 25 cm
فروست
ساير اطلاعات عنواني
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 88. VLSI, computer architecture, and digital signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references.
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Niraj K. Jha. and Sandip Kundu
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
99
.
M44
J49
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Jha, Niraj K.
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Kundu, Sandip
عنصر شناسه اي
TI
