• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها

عنوان
VLSI test principles and architectures :

پدید آورنده
edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.

موضوع
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI

رده
TK7874
.
75
.
V587
2006eb

کتابخانه
مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

محل استقرار
استان: قم ـ شهر: قم

مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

تماس با کتابخانه : 32910706-025

شابک

شابک
0080474799
شابک
9780080474793
شابک اشتباه
0123705975
شابک اشتباه
9780123705976

شماره کتابشناسی ملی

شماره
b717549

عنوان و نام پديدآور

عنوان اصلي
VLSI test principles and architectures :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
design for testability /
نام نخستين پديدآور
edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.

وضعیت نشر و پخش و غیره

محل نشرو پخش و غیره
Boston :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers,
تاریخ نشرو بخش و غیره
©2006.

مشخصات ظاهری

نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xxx, 777 pages) :
ساير جزييات
illustrations

فروست

عنوان فروست
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon

یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر

متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.

یادداشتهای مربوط به مندرجات

متن يادداشت
Design for testability / Laung-Terng (L.-T.) Wang, Xiaoqing Wen, and Khader S. Abdel-Hafez -- Logic and fault simulation / Jiun-Lang Huang, James C.-M. Li, and Duncan M. (Hank) Walker -- Test generation / Michael S. Hsiao -- Logic built-in self-test / Laung-Terng (L.-T.) Wang -- Test compression / Xiaowei Li, Kuen-Jong Lee, and Nur A. Touba -- Logic diagnosis / Shi-Yu Huang -- Memory testing and built-in self-test / Cheng-Wen Wu -- Memory diagnosis and built-in self-repair / Cheng-Wen Wu -- Boundary scan and core-based testing / Kuen-Jong Lee -- Analog and mixed-signal testing / Chauchin Su -- Test technology trends in the nanometer age / Kwang-Ting (Tim) Cheng, Wen-Ben Jone, and Laung-Terng (L.-T.) Wang.
بدون عنوان
0

یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده

متن يادداشت
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

یادداشتهای مربوط به سفارشات

منبع سفارش / آدرس اشتراک
Elsevier Science & Technology
شماره انبار
132281:132389

ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه

عنوان
VLSI test principles and architectures.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9780123705976

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.
موضوع مستند نشده
Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.
موضوع مستند نشده
Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.
موضوع مستند نشده
Circuitos integrados vlsi.
موضوع مستند نشده
COMPUTERS-- Logic Design.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.
موضوع مستند نشده
TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.
موضوع مستند نشده
TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.
موضوع مستند نشده
Testen
موضوع مستند نشده
VLSI

مقوله موضوعی

موضوع مستند نشده
COM-- 036000
موضوع مستند نشده
TEC-- 008030
موضوع مستند نشده
TEC-- 008050

رده بندی ديویی

شماره
621
.
39/5
ويراست
22

رده بندی کنگره

شماره رده
TK7874
.
75
نشانه اثر
.
V587
2006eb

سایر رده بندی ها

شماره رده
ZN
4030
شماره رده
ZN
4030
.
شماره رده
ZN
4950
شماره رده
ZN
4950
.
شماره رده
ZN
4952
شماره رده
ZN
4952
.
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk

نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )

مستند نام اشخاص تاييد نشده
Wang, Laung-Terng
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Wen, Xiaoqing
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Wu, Cheng-Wen,EE Ph. D.

مبدا اصلی

تاريخ عمليات
20201208095225.0
قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )
pn

دسترسی و محل الکترونیکی

نام الکترونيکي
 مطالعه متن کتاب 

اطلاعات رکورد کتابشناسی

نوع ماده
[Book]

اطلاعات دسترسی رکورد

تكميل شده
Y

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال