عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QD139.S34 R67 2003
QD139
.
S34
R67
2003
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
3540004149
شابک
9783540004141
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b702288
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
an analysis of composition and strain state /
نام نخستين پديدآور
Andreas Rosenauer.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
©2003.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 238 pages :
ساير جزييات
illustrations (some color) ;
ابعاد
24 cm.
فروست
عنوان فروست
Springer tracts in modern physics ;
مشخصه جلد
182
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
1. Introduction -- pt. I. Theoretical Fundamentals of Transmission Electron Microscopy -- 2. Electron Diffraction -- 3. Image Formation -- pt. II. Digital Image Analysis -- 4. Strain State Analysis -- 5. Lattice Fringe Analysis -- pt. III. Applications -- 6. Introduction -- 7. In[subscript 0.6]Ga[subscript 0.4]As/GaAs(001) SK Layers -- 8. InAs Quantum Dots -- 9. Electron Holography: AlAs/GaAs Superlattices -- 10. Outlook -- A. List of Acronyms Used -- B. Fourier Transform, Convolutions and [delta]-"Function."
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
"This book provides tools well suited for the quantitative investigation of semiconductors by transmission electron microscopy. These tools allow for the accurate determination of the composition of ternary semiconductor nanostructures with a spatial resolution at near atomic scales. The book focuses on new methods including strain state analysis as well as evaluation of the composition via the lattice fringe analysis (CELFA) technique. The basics of these procedures as well as their advantages, drawbacks and sources of error are all discussed. The techniques are applied to quantum wells and dots in order to give insight into kinetic growth effects such as segregation and migration."--Jacket.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Semiconductors-- Analysis.
موضوع مستند نشده
Semiconductors-- Microscopy.
موضوع مستند نشده
Transmission electron microscopy.
موضوع مستند نشده
33.68 surfaces, interfaces and thin layers.
موضوع مستند نشده
51.39 materials testing, properties of materials: other.
موضوع مستند نشده
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
موضوع مستند نشده
Durchstrahlungselektronenmikroskopie.
موضوع مستند نشده
Física moderna.
موضوع مستند نشده
Nanostruktur
موضوع مستند نشده
Nanostruktur.
موضوع مستند نشده
Semiconductors-- Analysis.
موضوع مستند نشده
Transmission electron microscopy.
موضوع مستند نشده
Verbindungshalbleiter
موضوع مستند نشده
Verbindungshalbleiter.
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
QC
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815/2
ويراست
21
رده بندی کنگره
شماره رده
QD139
.
S34
شماره رده
QC1
نشانه اثر
R67
2003
نشانه اثر
.
S797
v
.
182
2003
سایر رده بندی ها
شماره رده
33
.
68
شماره رده
51
.
39
شماره رده
PHY
135f
شماره رده
PHY
691f
شماره رده
PHY
704f
شماره رده
UD
9310
شماره رده
UH
6300
شماره رده
UP
3150
کد سيستم
bcl
کد سيستم
bcl
کد سيستم
stub
کد سيستم
stub
کد سيستم
stub
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
کد سيستم
rvk
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Rosenauer, Andreas,1964-
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20201207175214.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
