عنوان

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

شابک

149396674X

شابک

9781493966745

شابک اشتباه

9781493966769

شماره

b623761

عنوان اصلي

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

نام عام مواد

[Book]

نام نخستين پديدآور

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.

وضعيت ويراست

Fourth edition.

محل نشرو پخش و غیره

New York, NY :

نام ناشر، پخش کننده و غيره

Springer,

تاریخ نشرو بخش و غیره

©2018.

نام خاص و کميت اثر

xxiii, 550 pages :

ساير جزييات

illustrations (some color) ;

ابعاد

29 cm

متن يادداشت

Includes bibliographical references and index.

متن يادداشت

Preface -- Scanning Electron Microscopy and Associated Techniques: Overview -- Electron Beam - Specimen Interactions: Interaction Volume -- Backscattered Electrons -- Secondary Electrons -- X-rays -- SEM Instrumentation -- Image Formation -- SEM Image Interpretation -- The Visibility of Features in SEM Images -- Image Defects -- High resolution imaging -- Low Beam Energy SEM -- Variable Pressure Scanning Electron Microscopy (VPSEM) -- ImageJ and Fiji -- SEM Imaging checklist -- SEM Case Studies -- Energy Dispersive X-ray Spectrometry: Physical Principles and User-Selected Parameters -- DTSA-II EDS Software -- Qualitative Elemental Analysis by Energy Dispersive X-ray Spectrometry -- Quantitative Analysis: from k-ratio to Composition -- Quantitative analysis: the SEM/EDS elemental microanalysis k-ratio procedure for bulk specimens, step-by-step -- Trace Analysis by SEM/EDS -- Low Beam Energy X-ray Microanalysis -- Analysis of Specimens with Special Geometry: Irregular Bulk Objects and Particles -- Compositional Mapping -- Attempting Electron-Excited X-ray Microanalysis in the Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM) -- Energy Dispersive X-ray Microanalysis Checklist -- X-ray Microanalysis Case Studies -- Cathodoluminescence -- Characterizing crystalline materials in the SEM -- Focused Ion Beam Applications in the SEM laboratory -- Ion Beam Microscopy -- Appendix - A Database of Electron-Solid Interactions -- Index.

بدون عنوان

0

موضوع مستند نشده

Scanning electron microscopy.

موضوع مستند نشده

Microscopy, Electron, Scanning.

موضوع مستند نشده

Scanning electron microscopy.

موضوع مستند نشده

Science.

شماره

ويراست

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Goldstein, Joseph,1939-

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Joy, David C.,1943-

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Michael, Joseph R.

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Newbury, Dale E.

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Ritchie, Nicholas W. M.

مستند نام اشخاص تاييد نشده

Scott, John Henry J.

تاريخ عمليات

20200617082856.0

نام الکترونيکي

نوع ماده

[Book]

تكميل شده

Y