1 The Transmission Electron Microscope -- 2 Scattering and Diffraction -- 3 Elastic Scattering -- 4 Inelastic Scattering and Beam Damage -- 5 Electron Sources -- 6 Lenses, Apertures, and Resolution -- 7 How to "See" Electrons -- 8 Pumps and Holders -- 9 The Instrument -- 10 Specimen Preparation -- 11 Diffraction Patterns -- 12 Thinking in Reciprocal Space -- 13 Diffracted Beams -- 14 Bloch Waves -- 15 Dispersion Surfaces -- 16 Diffraction from Crystals -- 17 Diffraction from Small Volumes -- 18 Indexing Diffraction Patterns -- 19 Kikuchi Diffraction -- 20 Obtaining CBED Patterns -- 21 Using Convergent-Beam Techniques -- 22 Imaging in the TEM -- 23 Thickness and Bending Effects -- 24 Planar Defects -- 25 Strain Fields -- 26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy -- 27 Phase-Contrast Images -- 28 High-Resolution TEM -- 29 Image Simulation -- 30 Quantifying and Processing HRTEM Images -- 31 Other Imaging Techniques -- 32 X-ray Spectrometry -- 33 The XEDS-TEM Interface -- 34 Qualitative X-ray Analysis -- 35 Quantitative X-ray Microanalysis -- 36 Spatial Resolution and Minimum Detectability -- 37 Electron Energy-Loss Spectrometers -- 38 The Energy-Loss Spectrum -- 39 Microanalysis with Ionization-Loss Electrons -- 40 Everything Else in the Spectrum -- Acknowledgements for Figures.
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
This groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams.
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9780306453243
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Surfaces (Physics)
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Surfaces (Physics)
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
TEC021000
موضوع مستند نشده
TGMT
رده بندی ديویی
شماره
620
.
11
ويراست
23
رده بندی کنگره
شماره رده
TA404
.
6
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )