عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7870.23 B956 2001
TK7870
.
23
B956
2001
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0306479753
شابک
0792373146
شابک
9780306479755
شابک
9780792373148
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b553751
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Boundary-scan interconnect diagnosis
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
by José T. de Sousa and Peter Y.K Cheung.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
©2001.
فروست
عنوان فروست
Frontiers in electronic testing, 18.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Foreword. Preface. Acknowledgments. 1. Introduction. 2. Interconnect Circuit and Fault Models. 3. Behavioral Interconnect Diagnosis. 4. Structural Interconnect Diagnosis. 5. Diagnostic Resolution Assessment. 6. Experimental Results. 7. Conclusion. Appendices. References. Acronyms and abbreviations. Notation. About the authors. Index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Circuits impresos.
موضوع مستند نشده
Circuits integrats.
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7870
.
23
نشانه اثر
B956
2001
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
by José T. de Sousa and Peter Y.K Cheung.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
José T de Sousa
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Peter Y K Cheung
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
