نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
عنوان
An introduction to logic circuit testing /
پدید آورنده
Parag K. Lala
موضوع
Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
رده
کتابخانه
مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی
محل استقرار
استان:
قم
ـ شهر:
قم
تماس با کتابخانه :
32910706
-
025
شابک
شابک
1598293508 (pbk.)
شابک
9781598293500 (pbk.)
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b516819
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
An introduction to logic circuit testing /
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
Parag K. Lala
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
[San Rafael, Calif.] :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Morgan & Claypool Publishers,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2009
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 99 p. :
ساير جزييات
ill. ;
ابعاد
24 cm
فروست
عنوان فروست
Synthesis lectures on digital circuits and systems ;
مشخصه جلد
#17
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Introduction -- Fault detection in logic circuits -- Design for testability -- Built-in self-test
بدون عنوان
0
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Digital electronics-- Testing
موضوع مستند نشده
Electric fault location
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
موضوع مستند نشده
Logic circuits-- Testing
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Lala, Parag K.,1948-
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20090601104043.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد