This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors. The text covers a wide range of topics, encompassing fundamentals, theory, and applications including cluster sources, organic and polymeric depth profiling, and 3-D imaging in organic and polymeric materials. Written by founders in the field, this guide creates a peerless compendium of knowledge on this cutting edge set of methods
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Cluster secondary ion mass spectrometry.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
0470886056
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Secondary ion mass spectrometry.
موضوع مستند نشده
Secondary electron emission.
موضوع مستند نشده
Secondary ion mass spectrometry.
موضوع مستند نشده
Surfaces (Physics)
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
SCI-- 013010
رده بندی ديویی
شماره
543
.
65
رده بندی کنگره
شماره رده
QD96
.
S43
.
M34
2013
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )