عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
1615030085
شابک
9781615030088
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
ISTFA 2009 :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
نام نخستين پديدآور
sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2009, ASM International
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Asm International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2009
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
355 p. :
ساير جزييات
ill. ;
ابعاد
28 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
رده بندی ديویی
شماره
621
.
381
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(35th :2009 :, San Jose, Calif.)
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
ASM International
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Electronic Device Failure Analysis Society
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20110503123808.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
