عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
087170823X
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
ISTFA 2005 :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /
نام نخستين پديدآور
sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2005, ASTM International
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2005
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xviii, 523 p. :
ساير جزييات
ill. :
ابعاد
28 cm. +
مواد همراه اثر
CD-ROM
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(31st :2005 :, San Jose, CA.)
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
ASM International
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Electronic Device Failure Analysis Society
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20060213090449.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
