عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0871707888
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
ISTFA 2003 :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
نام نخستين پديدآور
sponsored by EDFAS
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2003
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xviii, 518 p. :
ساير جزييات
ill. ;
ابعاد
28 cm. +
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003
عنوان روی جلد
عنوان روي جلد
Conference proceedings from the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(29th :2002 :, Santa Clara, Calif.)
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
ASM International
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Electronic Device Failure Analysis Society
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20050111084909.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
