proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California / sponsored by EDFAS
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2001
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xix, 485 p. :
ساير جزييات
ill. ;
ابعاد
28 cm +
مواد همراه اثر
1 computer laser optical disc (4 3/4 in.)
يادداشت کلی
متن يادداشت
Sponsored by EDFAS, ISTFA
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Conference Proceedings from the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis
عنوان اصلي به زبان ديگر
Proceedings of the 27th International Symposium or Testing and Failure Analysis
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(27th :2001 :, Santa Clara, Cal.)