عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
3527409572
شابک
9783527409570
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Advances in speckle metrology and related techniques
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
edited by Guillermo H. Kaufmann.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Weinheim :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Wiley-VCH,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2011.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Radial Speckle Interferometry and Applications / Armando Albertazzi Gonçalves, Matías R Viotti -- Depth-Resolved Displacement Field Measurement / Jonathan M Huntley, Pablo D Ruiz -- Single-Image Interferogram Demodulation / Manuel Servin, Julio Estrada, Antonio Quiroga -- Phase Evaluation in Temporal Speckle Pattern Interferometry Using Time-Frequency Methods / Alejandro Federico, Guillermo H Kaufmann -- Optical Vortex Metrology / Wei Wang, Steen G Hanson, Mitsuo Takeda -- Speckle Coding for Optical and Digital Data Security Applications / Arvind Kumar, Madan Singh, Kehar Singh.
بدون عنوان
0
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Speckle metrology.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Kaufmann, Guillermo H.
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Wiley Online Library (Online service)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20190423124836.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
