conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /
نام نخستين پديدآور
sponsored by EDFAS--Electronic Device Failure Analysis Society, ISTFA/2010, ASM International.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2010.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xix, 464 p. :
ساير جزييات
ill. (some col.)
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به تکثیر
متن يادداشت
Access may be limited to ebrary affiliated libraries.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Congresses.
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Congresses.
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
نشانه اثر
.
I87
2010eb
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام تنالگان تاييد نشده
International Symposium for Testing and Failure Analysis(36th :2010 :, Dallas, Tex.)