عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7871 .M52 2011eb
TK7871
.
M52
2011eb
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
1613447590 (electronic bk.)
شابک
1615037268 (electronic bk.)
شابک
9781613447598 (electronic bk.)
شابک
9781615037261 (electronic bk.)
شابک اشتباه
161503725X
شابک اشتباه
9781615037254
شابک اشتباه
9781615037261 (e-book)
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Microelectronics failure analysis
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
desk reference /
نام نخستين پديدآور
edited by Richard J. Ross ; EDFAS, ASM International.
وضعیت ویراست
وضعيت ويراست
6th ed.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Materials Park, Ohio :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
ASM International,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2011.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xi, 660 p.) :
ساير جزييات
ill.
يادداشت کلی
متن يادداشت
"ASM International, 2011, no. 09110Z"--P. 4 of cover.
متن يادداشت
Some online versions lack accompanying media packaged with the printed version.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and indexes.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Section 1. Introduction -- section 2. Failure analysis process overviews -- section 3. Failure analysis topics -- section 4. Fault verification and classification -- section 5. Localization techniques -- section 6. Deprocessing and sample preparation -- section 7. Inspection -- section 8. Materials analysis -- section 9. Focused ion beam applications -- section 10. Management and reference information.
بدون عنوان
0
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Microelectronics failure analysis.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
161503725X
عنوان اصلی به زبان دیگر
عنوان اصلي به زبان ديگر
Microelectronics failure analysis desk reference.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Electronic apparatus and appliances-- Testing, Handbooks, manuals, etc.
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Defects, Handbooks, manuals, etc.
موضوع مستند نشده
Electronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc.
موضوع مستند نشده
Microelectronics-- Defects-- Testing, Handbooks, manuals, etc.
موضوع مستند نشده
Microelectronics-- Materials-- Testing, Handbooks, manuals, etc.
رده بندی ديویی
شماره
621
.
381
ويراست
23
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
نشانه اثر
.
M52
2011eb
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Ross, Richard J.
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
ASM International.
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Electronic Device Failure Analysis Society.
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Knovel (Firm)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20131119112625.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
