Theoretical concepts of x-ray nanoscale analysis :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
theory and applications /
نام نخستين پديدآور
Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xiii, 318 pages) :
ساير جزييات
illustrations (some color)
فروست
عنوان فروست
Springer Series in Materials Science,
مشخصه جلد
v.183
شاپا ي ISSN فروست
0933-033X ;
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Basic principles of the interaction between X-rays and matter -- X-ray reflectivity -- High-resolution X-ray diffraction -- Grazing-incidence small-angle X-ray scattering -- Theory of X-ray scattering from imperfect crystals -- X-ray diffraction for evaluation of residual stresses in polycrystals -- Methods of mathematical and physical optimization of X-ray data analysis
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Nanostructured materials
موضوع مستند نشده
X-rays-- Industrial applications
موضوع مستند نشده
Applied and Technical Physics
موضوع مستند نشده
Characterization and Evaluation of Materials
موضوع مستند نشده
Measurement Science and Instrumentation
موضوع مستند نشده
Physics
موضوع مستند نشده
Spectroscopy and Microscopy
موضوع مستند نشده
Theoretical, Mathematical and Computational Physics
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
PDDM
موضوع مستند نشده
SCI068000
موضوع مستند نشده
TEC-- 009000
موضوع مستند نشده
TEC-- 035000
رده بندی ديویی
شماره
620
.
1/1272
ويراست
23
رده بندی کنگره
شماره رده
TA417
.
25
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )