• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه

عنوان
Point Defects in Semiconductors and Insulators

پدید آورنده
by Johann-Martin Spaeth, Harald Overhof.

موضوع
Optical materials.

رده

کتابخانه
مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

محل استقرار
استان: قم ـ شهر: قم

مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

تماس با کتابخانه : 32910706-025

شابک

شابک
9783642556159
شابک
9783642627224

شماره کتابشناسی ملی

شماره
b407312

عنوان و نام پديدآور

عنوان اصلي
Point Defects in Semiconductors and Insulators
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions /
نام نخستين پديدآور
by Johann-Martin Spaeth, Harald Overhof.

وضعیت نشر و پخش و غیره

محل نشرو پخش و غیره
Berlin, Heidelberg :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Imprint: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2003.

فروست

عنوان فروست
Springer Series in Materials Science,
مشخصه جلد
51
شاپا ي ISSN فروست
0933-033X ;

یادداشتهای مربوط به مندرجات

متن يادداشت
Introduction -- Fundamentals of Electron Paramagnetic Resonance -- Electron Paramagnetic Resonance Spectra -- Optical Detection of Electron Paramagnetic Resonance -- Electron Nuclear Double Resonance -- Analysis of ENDOR Spectra -- Electrical Detection of Electron Paramagnetic Resonance -- Theoretical ab initio Calculations of Hyperfine Interactions -- Experimental Aspects of Optically Detected EPR and ENDOR -- Appendices.
بدون عنوان
0

یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده

متن يادداشت
This book introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy that are essential for applications used to determine microscopic defect structures. Many different magnetic resonance methods are required for investigating the microscopic and electronic properties of solids and uncovering correlations between those properties. In addition to EPR such methods include electron nuclear double resonance (ENDOR), electronically and optically detected EPR (the latter is known as ODENDOR), and electronically and optically detected ENDOR. This book comprehensively discusses experimental, technological, and theoretical aspects of these techniques from a practical point of view with many illustrative examples taken from semiconductors and insulators. The non-specialist is informed about the potential of the different methods. A researcher finds practical help in the application of commercial apparatus as well as useful guidance from ab initio theory for the task of deriving structure models from experimental data.

ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه

شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9783642627224

قطعه

عنوان
Springer eBooks

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

موضوع مستند نشده
Optical materials.

نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )

مستند نام اشخاص تاييد نشده
Spaeth, Johann-Martin.

نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )

مستند نام اشخاص تاييد نشده
Overhof, Harald.

نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)

مستند نام تنالگان تاييد نشده
SpringerLink (Online service)

مبدا اصلی

تاريخ عمليات
20190307161000.0

دسترسی و محل الکترونیکی

نام الکترونيکي
 مطالعه متن کتاب 

اطلاعات رکورد کتابشناسی

نوع ماده
[Book]

اطلاعات دسترسی رکورد

تكميل شده
Y

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال