عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
9781475744064
شابک
9781475744088
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b403821
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Advanced Computing in Electron Microscopy
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
by Earl J. Kirkland.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston, MA :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Imprint: Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
1998.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
1 Introduction -- 2 The Transmission Electron Microscope -- 3 Linear Image Approximations -- 4 Sampling and the Fast Fourier Transform -- 5 Simulating Images of Thin Specimens -- 6 Simulating Images of Thick Specimens -- 7 Multislice Applications and Examples -- 8 The Programs on the CD-ROM -- A Plotting CTEM/STEM Transfer Functions -- B Files on the CD-ROM -- C The Fourier Projection Theorem -- D Atomic Potentials and Scattering Factors -- D.1 Atomic Charge Distribution -- D.2 X-Ray Scattering Factors -- D.3 Electron Scattering Factors -- D.4 Parameterization -- E Bilinear Interpolation -- F 3D Perspective View.
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
pending
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9781475744088
قطعه
عنوان
Springer eBooks
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Computer engineering.
موضوع مستند نشده
Engineering.
موضوع مستند نشده
Optical materials.
موضوع مستند نشده
Surfaces (Physics).
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Kirkland, Earl J.
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
SpringerLink (Online service)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20190301073300.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
