شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
11783
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Tsui, Frank F.
عنوان اصلي
LSI/VLSI testability design
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
McGraw-Hill
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv, 702p.:ill
يادداشت کلی
متن يادداشت
Bibliography: p. 591-684
متن يادداشت
Includes index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Frank F. Tsui
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Large scale integration - Testing ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
T78
1987
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
