شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
21001
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Bhattacharya, Debashis
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1691-
عنوان اصلي
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 159p. : ill
فروست
عنوان فروست
The Kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture, and digital signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Bibliography: p. ]149[-155
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
عنصر شناسه ای
Very large scale integration - Computer simulation ، Integrated circuits
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
B484
1990
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Hayes, John Patrick 1944-
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
