عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 895 .G36 2003
TK
895
.
G36
2003
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
4404
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
NATO Advanced Research Workshop on Defects in High K Dielectric Nano electronic Semiconductor Devices
عنوان اصلي
Defects in high k gate dielectric stacks. nano electronic semiconductor devices
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Dordrecht
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2006
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 492 p. ill. 25 cm.
فروست
عنوان فروست
NATO science series.Series II,Mathematics, physics and
يادداشت کلی
متن يادداشت
ISBN: 140204365114020436789781402043
متن يادداشت
"Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects =
متن يادداشت
Includes bibliographical references and indexes
متن يادداشت
ng
متن يادداشت
Publisher description http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0663/2006382648-d.html
متن يادداشت
Table of contents only http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0824/2006382648-t.html
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by Evgeni Gusev
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Gate array circuits- Congresses
عنصر شناسه ای
، Dielectrics- Congresses
عنصر شناسه ای
، Semiconductors- Defects- Congresses
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
895
.
G36
2003
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Gusev, Evgeni.
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
1
