عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK
TK
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
2146
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Grasser, Tibor.
عنوان اصلي
Bias temperature instability for devices and circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer Verlag
تاریخ نشرو بخش و غیره
2014
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
pages cm
یادداشتهای مربوط به مسئولیت معنوی اثر
متن يادداشت
This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductor field-effect transistors
عنصر شناسه ای
، Electric circuit analysis
عنصر شناسه ای
، Electric power transmission
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Tibor Grasser
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
ل‌ا‌ه دیجیت‌ان‌ابخ‌کت
