کاربر محترم! صفحه مورد نظر یافت نشد! فهرست زیر، نزدیکترین محتوا به صفحه درخواستی شما است. برای جستجوی جدید از کلید زیر استفاده نمایید:
جستجوی کتابHierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Computer simulation ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
B484
1990
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer simulation
رده :
TK
7874
.
B484
1990
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: / by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes,Bhattacharya
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated Circuits -- Vey large scale integration -- Testing,Integrated Circuits -- Vey large scale integation -- Computer simulation
رده :
TK
7874
.
B484
1990
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis, 1691-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
رده :
TK
7874
.
B484
1990
