عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC 176 .84 .O7 .P54 2004
QC
176
.
84
.
O7
.
P54
2004
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
138426
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
بها‌ر۴۸
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)70(
نام نخستين پديدآور
Pietsch, Ullrich
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
2591-
عنوان اصلي
High-resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
2004
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xvi, 408 p.: ill.; 25 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Thin films-- Optical properties
عنصر شناسه ای
، X-rays-- Scattering
عنصر شناسه ای
، X-rays-- Diffraction
عنصر شناسه ای
، Nanostructured materials
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
176
.
84
.
O7
.
P54
2004
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU valcaV ,yloH 1953-
عنصر شناسه اي
AU oliT ,hcabmuaB 1961-
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
07
