عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .K867 1998
TK
7874
.
K867
1998
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
117255
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
بها‌ر۸۷
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)50(
نام نخستين پديدآور
Kuo, Way
خط فهرست نويسي و خط اصلي شناسه
1951-
عنوان اصلي
Reliability, yield, and stress burn-in: a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
1998
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxvi, 394 p.: ill.; 24 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits-- Design and construction-- Reliability
عنصر شناسه ای
، Microelectronics-- Reliability
عنصر شناسه ای
، Computer software-- Development-- Reliability
عنصر شناسه ای
، Semiconductors-- Computer programs-- Reliability
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
K867
1998
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU yraK gniT-ieW ,neihC 1965-
عنصر شناسه اي
AU oheaT ,miK 1960-
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
05
