Designing, testing, and diagnostics--join them : International Test Conference 1993 proceedings :October 17-21, 1993, Convention Center, Baltimore, Maryland, USA
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Altoona, PA
نام ناشر، پخش کننده و غيره
The Conference
تاریخ نشرو بخش و غیره
1993
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 1065 p. : ill. ; 29 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Cover title
متن يادداشت
IEEE Computer Society Press order number 4192-02--P. ii
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits-- Testing-- Congresses
عنصر شناسه ای
، Automatic checkout equipment-- Congresses
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
I474
1993
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
CO IEEE Computer Society, Test Technology Technical Committee
عنصر شناسه اي
CO Institute of Electrical and Electronics Engineers, Philadelphia Section
عنصر شناسه اي
TI
شناسه افزوده (تنالگان)
عنصر شناسه اي
International Test Conference )1993: Baltimore, Md.(